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          產品分類
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          X射線鍍層膜厚儀

          簡要描述:

          X射線鍍層膜厚儀可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析,運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低??舍槍蛻魝€性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

          更新時間:2023-04-24

          品牌ISP/韓國行業專用類型電子產品
          重復性5%能量分辨率159或125eV
          分析含量范圍0.1%-99.9%元素分析范圍13(Al)-92(U)
          價格區間10萬-30萬儀器種類臺式/落地式
          應用領域環保,化工,電子測量時間1-120秒
          可測層數多鍍層1-5層平臺移動范圍200mm*200mm*5mm
            X射線鍍層膜厚儀
           
            產品類型:能量色散 X 熒光光譜分析設備
           
            產品名稱:X射線鍍層膜厚儀
           
            型 號:iEDX-150WT
           
            生 產 商:韓國 ISP 公司
           
            特點:該型儀器采用開槽式大平臺設計,適合測試扁平狀大面積樣品,適合線路板及連接器行業的鍍層厚度管控。
           
                  (一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產品優勢
           
            1. 鍍層檢測,多鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
           
            2. 平臺尺寸:620*525mm,樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)
           
            3. 激光定位和自動多點測量功能。
           
            4. 可檢測固體、粉末狀態材料。
           
            5. 運行及維護成本低、無易損易耗品,對使用環境相對要求低。
           
            6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性,半定量分析。
           
            7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
           
            8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
           
            9. 軟件升級。
           
            10. 無損檢測,一次性購買標樣可長期使用。
           
            11. 使用安心無憂,售后服務響應時間 24H 以內,提供*保姆式服務。
           
            (二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
           
            1. X 射線管:高穩定性 X 光光管,微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
           
            鈹窗口, 陽極焦斑尺寸 75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。
           
            50kV,1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
           
            2. 探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)
           
            能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
           
            3. 濾光片/可選
           
            初級濾光片:Al濾光片,自動切換
           
            7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
           
            (三)X射線鍍層測厚儀測量原理
           
           

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